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专业X射线能谱仪测试
信息类别：
材料分析
价格： 面议
信息标签：
扫描电子显微镜测试,X射线能谱仪测试,SEM+EDS测试
点击量： 15 次
物流：广东省 深圳市
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联系人： 孙涛
信息编号：
103376926
最近更新： 2017-01-13
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扫描电子显微镜+X射线能谱仪(SEM+EDS)
扫描电子显微镜利用二次电子或背散射电子成像,对样品表面放大一定的倍数进行形貌观察,放大倍数可达30万倍,同时利用电子激发出样品表面的特征X射线来对微区的成分进行定性定量分析
测试范围: SEM的二次电子成像分辨率约3nm 背散射电子成像分辨率约300nm EDS成分分析的元素范围Be~U 分析深度约1μm 检测下限约1% 空间分辨率约1μm
服务项目:
各种固体材料的形貌分析
微区化学成分检测
样品成分的线分布和面分布分析
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